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华测高温四探针测试仪研发成功上市 三年质保
日期：2024-10-01 08:20
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摘要：高温四探针测试仪采用直排四探针法设计原理测量。主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能，参考美国 A.S.T.M 标准设计。重复性与稳定性更好，采用双屏蔽高频测试线缆，提高测试参数的**度，同时抗干扰能力更强。本设备也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。
华测高温四探针测试仪 研发成功上市 三年质保
高温四探针测试仪采用直排四探针法设计原理测量。主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能，参考美国 A.S.T.M 标准设计。重复性与稳定性更好，采用双屏蔽高频测试线缆，提高测试参数的精度，同时抗干扰能力更强。本设备也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。
搭配Labview系统开发的Huacepro软件，具备弹性的自定义功能，可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置，符合功能材料测试多样化的需求。电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的**；资料保存机制，当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中，不丢失试验数据，设备重新启动后可恢复原有试验数据。
源测量仪器的精密耦合特点相对分立仪器具有许多优点。例如，它具有更短的测试时间，通过减少GPIB的流量并简化了远程编程接口。它还保护被测设备在偶尔过载、热失控等情况下不被损坏。电流源和电压源都可设置回读使器件测量完整性*大化。如果回读达到可编程容限的极限，那么该源就被钳位在此极限，从而提供错误保护。
仪器优势：
1、它可以匀速、阶梯（升\降温）、循环冲击，真空、气氛等多种的加热方式。
2、采用***移相触发技术，完全可实现控制精度波动±0.25°c 以内，温控度更高。
3、加热速度更快、更快，同时它可以提供了材料的更多的测试环境。
