产品详情
  • 产品名称:电气薄膜用50点电极法击穿试验仪

  • 产品型号:HCJC-50D
  • 产品厂商:华测
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简单介绍:
北京华测计算机控制电压击穿测试仪 HCDJC-20kv(电气薄膜用50点电极法击穿试验仪),体积小,性能稳定。 华测电压击穿试验仪(电气薄膜用50点电极法击穿试验仪)采用计算机控制,试验过程中可在线观察试验曲线;自动存储试验条件及试验结果等数据,并可存取、显示、打印。本试验机采用立式箱体结构,节省试验室内占地空间,地脚采用滑轮结构,方便移动和摆放。
详情介绍:

电气薄膜用50点电极法击穿试验仪 HCJC-50D

产品简介

北京华测计算机控制电压击穿测试仪 HCDJC-20kv,体积小,性能稳定。

华测电压击穿试验仪采用计算机控制,试验过程中可在线观察试验曲线;自动存储试验条件及试验结果等数据,并可存取、显示、打印。本试验机采用立式箱体结构,节省试验室内占地空间,地脚采用滑轮结构,方便移动和摆放。


设计要点:

TVS瞬间抑制防护技术

多级循环电压采集技术:
材料击穿后,瞬间放电速度约为光速的1/5~1/3,guo际通用的方法为压降法进行采集击穿电压。即变压器的初级电压瞬间下降一定比率来判别材料是否击穿。显然记录击穿电压值产生偏差。而采用多级循环采集技术对击穿后的电压采集将解决此难题。
低通滤波电流监测技术:
高压压放电过程中将产生高频信号。电流采集传感器,大都为工频电流传感器。而采集过程中无法将高频信号处理时,从而造成检测不准确。无论是采用磁通门或霍尔原理所设计的传感器存在击穿后瞬间输出电压或电流信号过大,从而烧坏控制系统的采集部分。华测开发的低滤波电流采集传感器将高频杂波信号进行相应处理。同流采集华测的保护模块来保证采集精度与保护采集元件。
双系统互锁技术及隔离屏蔽技术:
采用双系统互锁技术应用于电击穿仪器,华测生产的电压击穿仪器不仅具备过压、过流保护系统,它的双系统互锁机制,当元器件出现问题或单系统出现故障时,将瞬间切断高压。
SPWM电子升压技术


采用SPWM电子升压技术,这一技术具有升压速度平稳,精度高。便于维护等优点。




选择要点:  

操作软件Labview系统开发
操作便捷,人性化



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技术参数:

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主要配置:

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应用范围:

电压击穿试验仪主要适用于固体绝缘材料如:塑料、薄膜、树脂、云母、陶瓷、玻璃、绝缘油、绝缘漆、纸板等介质在工频电压或直流电压下击穿强度和耐电压时间的测试。

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