北京华测导电和防静电材料体积电阻率测试仪

产品介绍

北京华测导电和防静电材料体积电阻率测试仪 具有材料和用途的多种电极，测量范围1X10-6~1X108Ω。可以直接测量片状、薄膜、板状的材料的体积电阻率，在半导电材料检测稳定性方面采用技术更新，使偏差降至1/60,抗干扰性能提高300倍。

产品优势

在半导电材料检测稳定性方面的技术更新

在测量导电材料电阻率若采用三电极或二电极测量时会因为电极与 被测量材料表面电阻而影响测量准确性，Huace-991导电与防静电体积电阻率测试仪采用四电极(四点探 针或四探针)法测量导电和防静电材料体积电阻率，可以克服表面接触电阻造成的误差影响，采用的新式HC浮动电路与三轴连接器组合使用有效增强对电源干扰或外来干扰的稳定性(重复精度)大幅提升。普通的使用环境的偏差为0.007°/。(代表值)与以往机型相比减少至1/60,从而使偏差从原来的基础上降到1/60，另外在掺杂50V突发干扰的条件下抗干扰性能提高300倍，偏差减少至1/300。H991系列配备可提供超稳定直流电源与高精度电流采集系统， 可测量半导体、导体材料的体积电阻率。

电阻率测量原理

1、矩形内所有的组成对地绝缘电阻大于1012Ω

2、供电电极

3、电位电极

Rn已知电阻

16mm大口径三轴连接器

电流输入端口采用大口径三轴连接器，是将内部屏蔽连接至GUARD(COM)线，外部屏蔽连接至GROUND的3层同轴设计。

兼顾抗干扰的稳定性和高压检查时的an 全性。

平板测试用电极SME-8311

采用GB或ASTM测试方法进行的计算，可以确定材料的体积电阻率

式中

PV =体积电阻率欧姆厘米（Ω);

V=电位电极（B-B')或为电流通过试样（A-A’）的电位差(V);

W =试样宽度(cm);

d =试样厚度（cm);

I=电流的平均值(A);

L=与试样接触的两个电位电极之间的距离（cm)。

基本参数

使用场所：室内使用，污染度2,海拔高度到2000m

使用温湿度范围：0°C〜40°C、80%rh以下，未结露

保存温湿度范围：-10°C〜50°C、80%rh以下，未结露

电源/zui大额定功率：AC100 V〜240V (50Hz/60Hz)/45VA

耐压：AC 4,000 V,感应电流10 mA [全部电源端子]-[保护接地，接口，测量端子]之间

适用标准：EMC:EN61326 an 全性：EN61010

体积及重量：330Wx80Hx450Dmm, 5.9kg

试样安装

请按上图接线柱的排列安装，接线柱在仪器的包装箱内

1、提起上电极，将试验样品（图中红色）放置与电压电极A-B区间。

2、放置完毕后进行设备的连线。如下图接线方式。

注意：

务必按以下接线方式，红对红，黑对黑的接线方式。不得接反。

设备接线

注意事项：

红色和黑色跨接电缆连接上下电极在一起（如上图两个蓝线所示）。红线为试样，所有连接使用标准0.161(4毫米）香蕉插头。如有可能，样品尺寸应为3x5“（7.62x12.7cm)

测试前的需要注意的几点要求及细节

一、根据D991标准，施加于材料表面的功率不超过0.1W

如何确定功率

对于不确定的材料，请缓加电压，如从1V开始加压，如果材料的电流在1UA以下。表明材料的功率远小于0.1W,不可取，仍需增加电压，假如电压值（测试主机上的电压值）在10V时，电流表上的电流值为10mA，那么此时 的施加在材料表面上的功率为0.1W，根据P=UI，可计算P=10X0.01A，功率为0.1W。故电压稍小一点即可。此时可以根据电流值及电压值（测试主机上电压值及电流表）进行计算材料的体积电阻率；

二、接通电源，通电1分钟后，分别读取测试主机上的电流值和电压值

材料施电压电后，对于材料是一种电极化的过程，电极化是一个缓慢的进行，为了使测试结果更加jing确。D911要求要通电一分钟后进行读数。

三、试验报告

试验报告中一定要有试验温度、湿度、样品厚度、宽度及试验电压。因为试验温度及湿度对材料的电阻有一定的影响。

测试结果的计算

根据D991试验方法的下列计算，体积电阻率可确定材料的体积电阻率:

PV =材料的体积电阻率单位欧姆.厘米

V =电位电极之间的电压值（B-B’）

I =通过试样的电流(A-A’）

w =样式的宽度（7.62cm)

d =试样的厚度（cm)

L =电位电极之间的距离(6.35cm)

当使用标准尺寸的样品时(本测试电极为标准尺寸），体积电阻率计算公式为:

夹具具有基于4.0”（7.62cm)试样宽度的固定质量。

电流电极和试样之间的质量=6.67 lb(3kg)。

电位电极和试样之间的质量=1.34 lb(0.6 kg)。